Norm

CEN-WI 20050-EC020050

Analyse van Si, A1 en Ti in ferro-silicium door röntgenfluorescentiespectrometrie

  • Deze norm is niet direct leverbaar vanuit de NEN-shop.
    Wilt u dit product bestellen neemt u dan contact op met NEN-klantenservice: (015) 2 690 391 of klantenservice@nen.nl

Over deze norm

Status Concept
Aantal pagina's 0
Commissie Chemische analyse van ijzer en staal
Method for X-ray fluorescence spectrometry for the determination of silicon (45-92% m/m), aluminium (0,01-5,0% m/m) and titanium (0,01-2,0% m/m) contents in ferro silicon.

Details

ICS-code 77.080
Nederlandse titel Analyse van Si, A1 en Ti in ferro-silicium door röntgenfluorescentiespectrometrie
Engelse titel Analysis of Si, Al and Ti in ferro silicon by X-ray fluorescence spectrometry

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen