Norm

IEC 60747-5-3:1997+A1:2009 en

Discrete halfgeleiderelementen en geïntegreerde schakelingen - Deel 5-3: Opto-elektronische elementen - Meetmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 28-07-2016

170,34

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 46
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-11-2009
Taal Engels
This part of IEC 60747 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

Details

ICS-code 31.080.99
Nederlandse titel Discrete halfgeleiderelementen en geïntegreerde schakelingen - Deel 5-3: Opto-elektronische elementen - Meetmethoden
Engelse titel Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
Vervangt
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen