Norm

IEC 60749:1996+A1:2000+A2:2001 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-09-2002

457,00

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 151
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-10-2001
Taal Engels, Frans
Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. However, additional test methods may be required for non-cavity devices.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen