Norm

IEC 60749-26:2003 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 26: Elektrostatische ontlading (ESD) gevoeligheidsbeproeving - Menselijke lichaammodel (HBM)

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-07-2006

49,85

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 27
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-10-2003
Taal Engels, Frans
Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices addording to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model electrostatic discharge. The objective is to provide reliable, repeatable test results so that accurate classifications can be performed. The testing shall be selected from this test method or the machine model test method (see IEC 60749-27).

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 26: Elektrostatische ontlading (ESD) gevoeligheidsbeproeving - Menselijke lichaammodel (HBM)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Vervangt
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen