Norm

IEC 60749-3:2017 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 3: Externe visuele inspectie

33,24

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 11
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-03-2017
Taal Engels
The purpose of IEC 60749-3 is to verify that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document. External visual inspection is a non-destructive test and applicable for all package types. The test is useful for qualification, process monitor, or lot acceptance.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 3: Externe visuele inspectie
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen