Norm

IEC 60749-32:2002+A1:2010 en

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 32: Ontvlambaarheid van kunststof-behuizingen (extern veroorzaakt)

37,39

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 8
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-11-2010
Taal Engels
This part of IEC 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The object of this test is to determine whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 32: Ontvlambaarheid van kunststof-behuizingen (extern veroorzaakt)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen