Norm

IEC 60749-4:2017 en

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Vochtige warmte, hoog versnelde belastingsproef (hast)

33,24

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-03-2017
Taal Engels
IEC 60749-4 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Vochtige warmte, hoog versnelde belastingsproef (hast)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen