Correctieblad

IEC 60749-8:2002/C1:2002 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 8: Afdichting

0,00

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 1
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2002
Taal Engels, Frans

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 8: Afdichting
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen