Aanvulling

IEC 60759:1983/A1:1991 en;fr

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers - Amendment 1

Optioneel verkrijgbaar met:

8,31 10,06 Incl BTW

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 4
Commissie Kerntechnische instrumentatie
Gepubliceerd op 01-11-1991
Taal Engels, Frans
Replaces one sentence in sub-clause 7.4.1 (page 55) and the Figure 15a (page 94).

Details

ICS-code 17.240
Engelse titel Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers - Amendment 1
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen