Norm

IEC 62007-2:1997+A1:1999 en;fr

Opto-elektronische halfgeleiderelementen voor toepassing in optische-vezelsystemen - Deel 2: Meetmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 03-02-2009

170,34

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 117
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-02-1999
Taal Engels, Frans
Describes the measuring methods applicable to the semiconductor optoelectronic devices to be used in the fiels of fibre optic systems and subsystems.

Details

ICS-code 31.080.01
31.260
33.180.01
Nederlandse titel Opto-elektronische halfgeleiderelementen voor toepassing in optische-vezelsystemen - Deel 2: Meetmethoden
Engelse titel Semiconductor optoelectric devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen