Correctieblad

IEC 62047-10:2011/C1:2012 en;fr

Halfgeleiders - Micro-elektromechanische toestellen - Deel 10: Micro-pijler compressie test voor MEMS materialen

0,00

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 1
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-02-2012
Taal Engels, Frans

Details

ICS-code 31.080.99
Nederlandse titel Halfgeleiders - Micro-elektromechanische toestellen - Deel 10: Micro-pijler compressie test voor MEMS materialen
Engelse titel Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen