Norm

ISO 10810:2010 en

Chemische analyse van oppervlakken - Röntgenfotoelektronenspectrometers - Richtlijnen voor analyse

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-08-2019

115,50 139,75 Incl BTW

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 27
Gepubliceerd op 15-11-2010
Taal Engels
This International Standard is intended to aid the operators of X-ray photoelectron spectrometers in their analysis of typical samples. It takes the operator through the analysis from the handling of the sample and the calibration and setting-up of the spectrometer to the acquisition of wide and narrow scans and also gives advice on quantification and on preparation of the final report.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Röntgenfotoelektronenspectrometers - Richtlijnen voor analyse
Engelse titel Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Guidelines for analysis
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen