Norm

ISO 11505:2012 en

Chemische analyse van oppervlakken - Algemene procedures voor het bepalen van een kwantitatief compositorisch diepte profiel door middel van Glow Discharge Optical Emmission Spectrometry (GD-OES)

114,67

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 33
Gepubliceerd op 15-12-2012
Taal Engels
This International Standard describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films. It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Algemene procedures voor het bepalen van een kwantitatief compositorisch diepte profiel door middel van Glow Discharge Optical Emmission Spectrometry (GD-OES)
Engelse titel Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen