Norm

ISO 14606:2015 en

Chemische analyse van oppervlakken - Diepteprofielen door sputtering - Optimalisatie door gebruik van gelaagde systemen als referentiematerialen

73,12

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 16
Gepubliceerd op 01-12-2015
Taal Engels

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Diepteprofielen door sputtering - Optimalisatie door gebruik van gelaagde systemen als referentiematerialen
Engelse titel Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen