Norm

ISO 21270:2004 en

Chemische analyse van oppervlakken - Röntgenfotoelektronen- en Auger elektronenspectrometers - Lineariteit van de intensiteitsschaal

73,12

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 13
Gepubliceerd op 01-06-2004
Taal Engels
This International Standard specifies two methods for determining the maximum count rate for an acceptable limit of divergence from linearity of the intensity scale of Auger and X-ray photoelectron spectrometers. It also includes methods to correct for intensity non-linearities so that a higher maximum count rate can be employed for those spectrometers for which the relevant correction equations have been shown to be valid.

Details

ICS-code 71.040.40
Nederlandse titel Chemische analyse van oppervlakken - Röntgenfotoelektronen- en Auger elektronenspectrometers - Lineariteit van de intensiteitsschaal
Engelse titel Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen