Norm

ISO/CD TS 21749:2007 en

Measurement uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments

  • Deze norm is niet direct leverbaar vanuit de NEN-shop.
    Wilt u dit product bestellen neemt u dan contact op met NEN-klantenservice: (015) 2 690 391 of klantenservice@nen.nl

Over deze norm

Status Concept
Aantal pagina's 0
Commissie Toepassing van statistische methoden
Gepubliceerd op 14-09-2007
Taal Engels

Details

ICS-code 17.020
Nederlandse titel Measurement uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments
Engelse titel Measurement uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen