Norm

NEN 10444-2:1982 en;fr

Meting van de parameters van kwartskristallen door middel van fasenultechniek in een π-netwerk - Deel 2: Meting van de dynamische capaciteit van kwartskristallen door middel van de voorhoudhoekmethode

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-08-1997
  • Deze norm is niet direct leverbaar vanuit de NEN-shop.
    Wilt u dit product bestellen neemt u dan contact op met NEN-klantenservice: (015) 2 690 391 of klantenservice@nen.nl

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 18
Gepubliceerd op 01-06-1982
Taal Engels, Frans
This standard describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. The advantage of this method is that it used only the measuring circuit described in IEC Publication 444 and therefore avoids the use of additional elements or instruments which could be sources of error.

Details

ICS-code 31.140
Nederlandse titel Meting van de parameters van kwartskristallen door middel van fasenultechniek in een π-netwerk - Deel 2: Meting van de dynamische capaciteit van kwartskristallen door middel van de voorhoudhoekmethode
Engelse titel Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a π-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen