Norm

NEN 10596:1981 en;fr

Beproevingsmethoden voor halfgeleider-stralingsdetectoren en scintillatiemeters - Definities

  • Deze norm is ingetrokken sinds 25-02-2004

37,39

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 21
Commissie Kerntechnische instrumentatie
Gepubliceerd op 01-02-1981
Taal Engels, Frans
To define those terms necessary for a good understanding of the publications IEC 333, IEC 430 and IEC 462

Details

ICS-code 17.240
Nederlandse titel Beproevingsmethoden voor halfgeleider-stralingsdetectoren en scintillatiemeters - Definities
Engelse titel Test methods for semiconductor radiation detectors and scintillation counting - Definitions

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen