Norm

NEN 10749:1985 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-04-1997
  • Deze norm is niet direct leverbaar vanuit de NEN-shop.
    Wilt u dit product bestellen neemt u dan contact op met NEN-klantenservice: (015) 2 690 391 of klantenservice@nen.nl

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 59
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-10-1985
Taal Engels, Frans
This standard lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. However, additional test methods may be required for non-cavity devices.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen