Norm

NEN 10749:1997 en;fr

Geïntegreerde schakelingen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-02-1999
  • Deze norm is niet direct leverbaar vanuit de NEN-shop.
    Wilt u dit product bestellen neemt u dan contact op met NEN-klantenservice: (015) 2 690 391 of klantenservice@nen.nl

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 95
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-04-1997
Taal Engels, Frans
Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. However, additional test methods may be required for non-cavity devices. This standard has taken account, wherever possible, IEC 68. The object of this standard is to establish uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices. In case of contradiction between this standard and a relevant specification, the latter shall govern.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Geïntegreerde schakelingen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Vervangt
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen