Norm

NEN-EN 13925-1:2000 Ontw. en

Niet-destructief onderzoek - Röntgen-diffractie van polykristallijn en amorf materiaal - Deel 1: Algemene principes

  • Deze norm is ingetrokken sinds 16-04-2003

16,10

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 9
Gepubliceerd op 01-07-2000
Taal Engels
Defines the general principles of X-ray diffraction from polycrysalline and amorphous materials. This mateirals testing method has traditionally been referred to as "X-ray Powder Diffraction (XRPD)", and is now applied to powders, bulk materials, thin film, and others. As the method can be used for various types of materials and to obtain a large variety of information, this standard reviews a large number of types of analysis but remains non-exhaustive.

Details

ICS-code 19.100
Nederlandse titel Niet-destructief onderzoek - Röntgen-diffractie van polykristallijn en amorf materiaal - Deel 1: Algemene principes
Engelse titel Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1: General principles
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen