Norm

NEN-EN 14784-2:2003 Ontw. en

Niet-destructief onderzoek - Industriële computerradiografie met opslag van fosfor gevormde platen - Deel 2: Algemene principes voor onderzoek van metalen door röntgen- en gammastralen

  • Deze norm is ingetrokken sinds 15-09-2005

49,30

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 14
Gepubliceerd op 01-10-2003
Taal Engels
This European Standard specifies fundamental techniques of computed radiography with the aim of enabling satisfactory and repeatable results to be obtained economically. The techniques are based on the fundamental theory of the subject and tests measurements. This European standard specifies the general rules for industrial computed X- and gamma radiography for flaw detection purposes, using phosphor imaging plates (IP). It is based on the general principles for radiographic examination of metallic materials on the basis of films (EN 444 and ISO 5579). The basic set-up of radiation source, detector and the corresponding geometry shall be applied in agreement with EN 444 and ISO 5579 and the corresponding product standards as e.g. EN 1435 for welding and EN 12681 for foundry.

Details

ICS-code 19.100
Nederlandse titel Niet-destructief onderzoek - Industriële computerradiografie met opslag van fosfor gevormde platen - Deel 2: Algemene principes voor onderzoek van metalen door röntgen- en gammastralen
Engelse titel Non-destructive testing - Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates - Part 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays en gamma rays
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen