Norm

NEN-EN 16424:2012 Ontw. en

Karakterisering van afval - Screeningsmethode voor de bepaling van de samenstelling van elementen met draagbare röntgenfluorescentie instrumenten

  • Deze norm is ingetrokken sinds 29-10-2014

23,50

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 21
Commissie Anorganische parameters
Gepubliceerd op 01-07-2012
Taal Engels
This Technical Specification is dedicated to field portable X-ray fluorescence (XRF) equipment (hand-held or portable bench top) and describes a screening method for the determination of the elemental composition of waste materials for on-site verification. Portable XRF spectrometers are used for a rapid and exploratory analysis of liquid, paste-like or solid materials. The absence or presence of specific elements is displayed qualitatively in terms of negatives and positives with an indication of the concentration level.

Details

ICS-code 13.030.01
Nederlandse titel Karakterisering van afval - Screeningsmethode voor de bepaling van de samenstelling van elementen met draagbare röntgenfluorescentie instrumenten
Engelse titel Characterization of waste - Screening methods for the element composition by portable X-ray fluorescence intruments
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen