Norm

NEN-EN-IEC 60444-3:1997 en;fr

Meting van de parameters van kwartskristallen met fasenultechniek in een pi-netwerk - Deel 3: Basismethode voor het meten van twee-poort parameters van kwartskristallen tot 200 MHz door fasevergelijking in een pi-netwerk met compensatie van de parallelcapaciteit C-0

66,47

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 33
Gepubliceerd op 01-08-1997
Taal Engels, Frans
This report specifies a method for the measurement of the parameters of quartz crystal units using a inductance to compensate for the effects of C0 at the frequency of the crystal unit with accuracy depending on the type of crystals for: a) frequency with a fractional accuracy ranging between 10-6 and 10-8; b) resistance with a fractional accuracy ranging between 2% and 5%; c) motional capacitance and motional inductance with a fractional accuracy ranging between 3% and 7%.

Details

ICS-code 31.140
Nederlandse titel Meting van de parameters van kwartskristallen met fasenultechniek in een pi-netwerk - Deel 3: Basismethode voor het meten van twee-poort parameters van kwartskristallen tot 200 MHz door fasevergelijking in een pi-netwerk met compensatie van de parallelcapaciteit C-0
Engelse titel Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C-0
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen