Norm

NEN-EN-IEC 60444-4:1997 en;fr

Meting van de parameters van kwartskristallen door middel van fasenultechniek in een pi-netwerk - Deel 4: Methode voor het meten van de resonantiefrequentie bij capacitieve belasting fL, de resonantieweerstand bij capacitieve belasting RL en voor de berekening van andere afgeleide waarden van kwartskristallen, tot 30 MHz

41,55

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 25
Gepubliceerd op 01-08-1997
Taal Engels, Frans
Specifies a simple method of measurement allowing calculation of load resonance frequency offset, frequency pulling range and pulling sensitivity. The method described uses the change in resonance frequency from fr to FL which occurs when a load capacitance CL is inserted in series with the crystal unit. Tha accuracy is determined mainly by the precision of the frequency measurement and the calibration of the load capacitor. An appendix gives recommendations regarding the use of load capacitors.

Details

ICS-code 31.140
Nederlandse titel Meting van de parameters van kwartskristallen door middel van fasenultechniek in een pi-netwerk - Deel 4: Methode voor het meten van de resonantiefrequentie bij capacitieve belasting fL, de resonantieweerstand bij capacitieve belasting RL en voor de berekening van andere afgeleide waarden van kwartskristallen, tot 30 MHz
Engelse titel Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quarz crystal units, up to 30 MHz

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen