Norm

NEN-EN-IEC 60444-8:2003 en;fr

Meting van de parameters van kwartskristallen - Deel 8: Beproevingsvoorziening voor oppervlaktemontage voor kwartskristallen

37,39

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 21
Gepubliceerd op 01-11-2003
Taal Engels, Frans
Explains the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters of a leadless surface mounted quartz crystal units over the frequency range from 1 MHz to 150 MHz using zero phase technique as specified in IEC 60444-4 and IEC 60444-5.

Details

ICS-code 31.140
Nederlandse titel Meting van de parameters van kwartskristallen - Deel 8: Beproevingsvoorziening voor oppervlaktemontage voor kwartskristallen
Engelse titel Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen