Norm

NEN-EN-IEC 60512-25-6:2004 en;fr

Connectoren voor elektronische apparatuur - Beproevings- en meetmethoden - Deel 25-6: Proef 25f: Patroon en jitter

66,47

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 35
Commissie Elektromechanische onderdelen voor elektronisch materieel
Gepubliceerd op 01-08-2004
Taal Engels, Frans
Describes mehtods for measuring an eye pattern response and jitter in the time domain.

Details

ICS-code 31.220.10
Nederlandse titel Connectoren voor elektronische apparatuur - Beproevings- en meetmethoden - Deel 25-6: Proef 25f: Patroon en jitter
Engelse titel Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen