Norm

NEN-EN-IEC 60749-11:2002 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 11: Snelle verandering van temperatuur, methode met twee vloeistofbaden

20,77

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 13
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
Defines the rapid change of temperature test methods and the two-fluid-bath method. When both test methods are performed as part of a device qualification, results of air to air temperature cycling take priority over this two-fluid-bath test method.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 11: Snelle verandering van temperatuur, methode met twee vloeistofbaden
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature two fluid baths method
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen