Norm

NEN-EN-IEC 60749-1:2003 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 1: Algemeen

24,93

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 15
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels, Frans
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. In the case of contradiction between this standard and a relevant procurement specification, the latter should govern.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 1: Algemeen
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen