Norm

NEN-EN-IEC 60749-13:2002 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 13: Zoute atmosfeer

14,96

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 13: Zoute atmosfeer
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods'Part 13: Salt atmosphere
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen