Norm

NEN-EN-IEC 60749-13:2018 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 13: Zoute atmosfeer

64,30 77,80 Incl BTW

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 28
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-05-2018
Taal Engels
NEN-EN-IEC 60749-13 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 13: Zoute atmosfeer
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen