Correctieblad

NEN-EN-IEC 60749-15:2011/C11:2011 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 15: Bestandheid tegen soldeertemperatuur van toestellen gemonteerd via door-en-door gaten

Optioneel verkrijgbaar met:

0,00

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 1
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-02-2011
Taal Engels

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 15: Bestandheid tegen soldeertemperatuur van toestellen gemonteerd via door-en-door gaten
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen