Norm

NEN-EN-IEC 60749-16:2003 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 16: Contactgeluidbepaling (PIND)

20,77

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 13
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-06-2003
Taal Engels, Frans
Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 16: Contactgeluidbepaling (PIND)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen