Aanvulling

NEN-EN-IEC 60749-19:2003/A1:2010 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 19: Afschuifsterkte

Optioneel verkrijgbaar met:

10,87

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 2
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2010
Taal Engels

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 19: Afschuifsterkte
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen