Correctieblad

NEN-EN-IEC 60749-19:2003/C11:2003 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 19: Afschuifsterkte

Optioneel verkrijgbaar met:

0,00

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 1
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels, Frans

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 19: Afschuifsterkte
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen