Norm

NEN-EN-IEC 60749:1999 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden

  • Deze norm is ingetrokken sinds 01-07-2005

457,00

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 95
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-02-1999
Taal Engels, Frans

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Vervangt
Vervangen door
Gewijzigd door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen