Norm

NEN-EN-IEC 60749-20:2003 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 20: Weerstand van kunststof behuizing SMDs tegen het gecombineerde effect van vocht en soldeerhitte

  • Deze norm is ingetrokken sinds 22-12-2009

124,64

Over deze norm

Status Ingetrokken
Aantal pagina's 49
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels, Frans
Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). This test method provide a means of assessing the resistance to soldering heat of plastic-encapsulated surface mount devices (SMDs). This test is destructive.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 20: Weerstand van kunststof behuizing SMDs tegen het gecombineerde effect van vocht en soldeerhitte
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Vervangen door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen