Norm

NEN-EN-IEC 60749-20:2009 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 20: Weerstand van kunststof behuizing SMDs tegen het gecombineerde effect van vocht en soldeerhitte

153,97

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 30
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-12-2009
Taal Engels
This part of IEC 60749 provides a means of assessing the resistance to soldering heat of semiconductors packaged as plastic encapsulated surface mount devices (SMDs). This test is destructive.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 20: Weerstand van kunststof behuizing SMDs tegen het gecombineerde effect van vocht en soldeerhitte
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen