Norm

NEN-EN-IEC 60749-23:2004 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 23: Levensduur bij hoge temperatuur

Volledig inclusief:

29,08

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 17
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-05-2004
Taal Engels, Frans
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 23: Levensduur bij hoge temperatuur
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Gewijzigd door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen