Aanvulling

NEN-EN-IEC 60749-23:2004/A1:2011 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 23: Levensduur bij hoge temperatuur

Optioneel verkrijgbaar met:

12,68

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 4
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-03-2011
Taal Engels

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 23: Levensduur bij hoge temperatuur
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen