Aanvulling

NEN-EN-IEC 60749-27:2007/A1:2012 en

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Optioneel verkrijgbaar met:

12,68

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 6
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-11-2012
Taal Engels

Details

ICS-code 31.080.01
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen