Norm

NEN-EN-IEC 60749-30:2005 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 34: Het in de gewenste toestand brengen van niet-hermetisch gesloten delen voor oppervlaktemontage voorafgaand aan betrouwbaarheidsbeproeving

Volledig inclusief:

49,85

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 27
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-04-2005
Taal Engels
This part of IEC 60749 establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount devices (SMDs) prior to reliability testing. The test method defines the preconditioning flow for non-hermetic solid-state SMDs representative of a typical industry multiple solder reflow operation. These SMDs should be subjected to the appropriate preconditioning sequence described in this standard prior to being submitted to specific in-house reliability testing (qualification and/or reliability monitoring) in order to evaluate long term reliability (impacted by soldering stress).

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 34: Het in de gewenste toestand brengen van niet-hermetisch gesloten delen voor oppervlaktemontage voorafgaand aan betrouwbaarheidsbeproeving
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Gewijzigd door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen