Aanvulling

NEN-EN-IEC 60749-30:2005/A1:2011 en

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 30: Het in de gewenste toestand brengen van niet-hermetisch gesloten delen voor oppervlaktemontage voorafgaand aan betrouwbaarheidsbeproeving

Optioneel verkrijgbaar met:

16,30

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 5
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-07-2011
Taal Engels

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 30: Het in de gewenste toestand brengen van niet-hermetisch gesloten delen voor oppervlaktemontage voorafgaand aan betrouwbaarheidsbeproeving
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Wijzigt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen