Norm

NEN-EN-IEC 60749-31:2003 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 31: Ontvlambaarheid van kunststof-behuizingen (intern veroorzaakt)

14,96

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels, Frans
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The object of this test is to determine the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 31: Ontvlambaarheid van kunststof-behuizingen (intern veroorzaakt)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen