Norm

NEN-EN-IEC 60749-3:2002 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 3: Externe visuele inspectie

13,29

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 7
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2002
Taal Engels, Frans
To verify that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document. External visual inspection is a non-destructive test and applicable for all package types. The test is useful for qualification, process monitor, or lot acceptance, or both.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 3: Externe visuele inspectie
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical en climatic test methods - Part 3: External visual inspection
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen