Norm

NEN-EN-IEC 60749-32:2003 en;fr

Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 31: Ontvlambaarheid van kunststof-behuizingen (extern veroorzaakt)

Volledig inclusief:

14,96

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 9
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-08-2003
Taal Engels, Frans
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). The object of this test is to determine whether the device ignites due to external heating. The test used a needle flame, somulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiderelementen - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 31: Ontvlambaarheid van kunststof-behuizingen (extern veroorzaakt)
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Gewijzigd door

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen