Norm

NEN-EN-IEC 60749-35:2006 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 35: Akoestische onderzoekmethode voor met kunsthars omhulde elektronische onderdelen

117,74

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 47
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-10-2006
Taal Engels, Frans
This part of IEC 60749 defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components. This standard provides a guide to the use of acoustic microscopy for detecting anomalies (delamination, cracks, mould-compound voids, etc.) reproducibly and non-destructively in plastic packages.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 35: Akoestische onderzoekmethode voor met kunsthars omhulde elektronische onderdelen
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Vervangt

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen