Norm

NEN-EN-IEC 60749-36:2003 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 36: Acceleratie, stationaire toestand

13,29

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 7
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-06-2003
Taal Engels, Frans
Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 36: Acceleratie, stationaire toestand
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen