Norm

NEN-EN-IEC 60749-39:2007 en;fr

Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 39: Meten van vochtverspreiding en in water oplosbare organische materialen gebruikt voor stationaire omstandigheden

36,23

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 19
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-11-2007
Taal Engels, Frans
This part of IEC 60749 details the procedures for the measurement of the characteristic properties of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used in the packaging of semiconductor components. These two material properties are important parameters for the effective reliability performance of plastic packaged semiconductors after exposure to moisture and being subjected to high-temperature solder reflow.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleiders - Mechanische en klimatologische beproevingsmethoden - Deel 39: Meten van vochtverspreiding en in water oplosbare organische materialen gebruikt voor stationaire omstandigheden
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen