Norm

NEN-EN-IEC 60749-41:2020 en;fr

Halfgeleider componenten - Mechanische en klimatologische testmethoden - Deel 41: Standaard betrouwbaarheid testmethodes voor niet-vluchtige geheugencomponenten

145,59 158,69 Incl BTW

Over deze norm

Status Definitief
Aantal pagina's 44
Commissie Halfgeleiders
Gepubliceerd op 01-09-2020
Taal Engels, Frans
NEN-EN-IEC 60749-41 specifies the procedural requirements for performing valid endurance,retention and cross-temperature tests based on a qualification specification. Endurance andretention qualification specifications (for cycle counts, durations, temperatures, and samplesizes) are specified in JESD47 or are developed using knowledge-based methods such as inJESD94.

Details

ICS-code 31.080.01
Nederlandse titel Halfgeleider componenten - Mechanische en klimatologische testmethoden - Deel 41: Standaard betrouwbaarheid testmethodes voor niet-vluchtige geheugencomponenten
Engelse titel Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Winkelwagen

Subtotaal:

Ga naar winkelwagen